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倒装芯片型半导体背面用膜、半导体背面用切割带集成膜、半导体器件的生产方法和倒装芯片型半导体器件

摘要

本发明涉及倒装芯片型半导体背面用膜、半导体背面用切割带集成膜、半导体器件的生产方法和倒装芯片型半导体器件。本发明提供一种倒装芯片型半导体背面用膜,其形成于倒装芯片连接至被粘物的半导体元件的背面上,该倒装芯片型半导体背面用膜包含基于倒装芯片型半导体背面用膜的总量在70重量%-95重量%范围内的无机填料。

著录项

  • 公开/公告号CN102376615B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-03-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日东电工株式会社;

    申请/专利号CN201110204420.8

  • 发明设计人 高本尚英;志贺豪士;浅井文辉;

    申请日2011-07-20

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 09:36:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-09

    授权

    授权

  • 2013-03-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/683 申请日:20110720

    实质审查的生效

  • 2012-03-14

    公开

    公开

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