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具有垂直沟道晶体管的半导体存储器件及其制造方法

摘要

本发明提供一种具有垂直沟道晶体管的半导体存储器件及其制造方法。该半导体器件包括:半导体衬底;半导体柱,从半导体衬底延伸,该半导体柱包括第一区域、第二区域和第三区域,第二区域位于第一区域和第三区域之间,第三区域位于第二区域与半导体衬底之间,直接相邻的区域具有不同的导电类型;第一栅极图案,设置在第二区域上,第一绝缘层在第一栅极图案与第二区域之间;以及第二栅极图案,设置在第三区域上,其中第二区域通过第二栅极图案欧姆连接到衬底。

著录项

  • 公开/公告号CN102446919B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-02-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN201110302245.6

  • 发明设计人 金大益;洪亨善;黄有商;郑铉雨;

    申请日2011-10-08

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人冯玉清

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 09:34:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-02-03

    授权

    授权

  • 2013-07-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/108 申请日:20111008

    实质审查的生效

  • 2012-05-09

    公开

    公开

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