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一种用于非晶碳沉积工艺中的清洗方法

摘要

本发明涉及一种用于非晶碳沉积工艺中的清洗方法,包括在等离子条件下对等离子腔体进行预清洗工艺步骤S1和对等离子腔体沉积环境保护薄膜工艺步骤S2;步骤S2具体包括将含有C

著录项

  • 公开/公告号CN103526177B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-12-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201310461217.8

  • 发明设计人 雷通;桑宁波;贺忻;

    申请日2013-09-30

  • 分类号

  • 代理机构上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人吴世华

  • 地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号

  • 入库时间 2022-08-23 09:32:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-23

    授权

    授权

  • 2014-02-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C16/26 申请日:20130930

    实质审查的生效

  • 2014-01-22

    公开

    公开

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