公开/公告号CN1170309C
专利类型发明授权
公开/公告日2004-10-06
原文格式PDF
申请/专利权人 联华电子股份有限公司;
申请/专利号CN01121173.3
申请日2001-06-11
分类号H01L21/312;H01L21/3105;H01L21/768;
代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;
代理人陶凤波
地址 台湾省新竹科学工业园区
入库时间 2022-08-23 08:57:09
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2004-10-06
授权
授权
2003-01-15
公开
公开
机译: 制作半导体结构,包括在介电层中形成第一开口,在介电材料中形成开口,在第一开口内形成种子层,形成掩模层以及在种子层上方形成填充层。
机译: 用于增强键合焊盘的子结构的半导体器件,包括层间介电层,该层间介电层形成在子结构上并且包括接触开口,该接触开口包括彼此连接的单独的点
机译: 液晶显示器,其包括介电层,该介电层具有围绕图案化结构的第一开口,并且暴露形成在介电层上的第一像素电极和第二像素电极的一部分