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形成开口于一高分子型介电层中的方法及其结构

摘要

一种形成一开口于一高分子型介电层中的方法。此方法包括提供一基底,此基底上已形成有一导电结构层,一高分子型介电层。进行一热制造工艺以均匀硬化此高分子型介电层。形成一掩模层于基底上。定义掩模层及高分子型介电层以形成一开口,其中开口暴露出此高分子型介电层的一表面。进行一局部硬化制造工艺,将高分子型介电层被开口暴露的表面局部硬化。其中局部硬化制造工艺,包括利高能量光,电子束或离子束的照射源,进行局部硬化。

著录项

  • 公开/公告号CN1170309C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2004-10-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 联华电子股份有限公司;

    申请/专利号CN01121173.3

  • 发明设计人 陈学忠;陈东郁;刘志建;林庆福;

    申请日2001-06-11

  • 分类号H01L21/312;H01L21/3105;H01L21/768;

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人陶凤波

  • 地址 台湾省新竹科学工业园区

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2004-10-06

    授权

    授权

  • 2003-01-15

    公开

    公开

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