首页> 中国专利> 扫描电子显微镜及扫描透过电子显微镜

扫描电子显微镜及扫描透过电子显微镜

摘要

本发明的扫描透过电子显微镜为了能够实现0.1nm原子尺寸结构的三维观察而具有球面像差系数小的电子透镜系统。再有,本发明的扫描透过电子显微镜具有:能够变更照射角的光圈、能够变更电子射线探针的探针尺寸及照射角度的照射电子透镜系统、二次电子检测器、透过电子检测器、前方散射电子射线检测器、焦点可变装置、识别图像的对比度的图像运算装置、对图像清晰度进行运算的图像运算装置、进行图像的三维构筑的运算装置、及对二次电子信号与样本前方散射电子信号进行混合的混频器。

著录项

  • 公开/公告号CN103703537B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-06-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社日立高新技术;

    申请/专利号CN201280035812.9

  • 发明设计人 稻田博实;中村邦康;

    申请日2012-07-19

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人李逸雪

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:26:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-06-17

    授权

    授权

  • 2014-04-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 37/28 申请日:20120719

    实质审查的生效

  • 2014-04-02

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号