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形成自对准接触物的方法及具有自对准接触物的集成电路

摘要

一种形成自对准接触物的方法,包括:提供基板,其上具有晶体管,其中该晶体管包括罩幕层及形成于该罩幕层相对侧的一对绝缘间隔物;在该基板之上形成介电层,并覆盖该晶体管;移除该介电层的部份,以露出该晶体管的顶部;在该介电层与该晶体管的该顶部上顺应地形成阻障层;蚀刻该阻障层,在该晶体管的该一对绝缘间隔物中的一个上部边角处留下保护阻障物;施行蚀刻程序,将该保护阻障物与该罩幕层用做蚀刻罩幕,进而形成露出该晶体管的源极/汲极区的自对准接触开口及由该保护阻障物所覆盖的介电间隔物;以及在该自对准接触开口内形成导电层以接触该晶体管该源极/汲极区。

著录项

  • 公开/公告号CN102760700B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南亚科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201110165411.2

  • 发明设计人 何家铭;陈逸男;刘献文;

    申请日2011-06-14

  • 分类号

  • 代理机构北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人余朦

  • 地址 中国台湾桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号

  • 入库时间 2022-08-23 09:24:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-03-25

    授权

    授权

  • 2012-12-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/8234 申请日:20110614

    实质审查的生效

  • 2012-10-31

    公开

    公开

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