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一种陡峭界面GaN/AlGaN超晶格的制备方法

摘要

一种陡峭界面GaN/AlGaN超晶格的制备方法,涉及一种超晶格结构。利用界面引入超薄阻挡-补偿插层方法,在金属有机物MOCVD生长的GaN/AlGaN超晶格的界面进行特殊处理,有效阻挡高温下界面金属元素扩散效应,以获得超陡峭、对称界面,使量子阱更为接近方势阱,增强量子限制效应。它通过调控外延生长参数特别是组分参数以实现超薄阻挡-补偿对层的插入,在MOCVD生长同时即可完成界面超陡处理。运用该方法外延生长的GaN/AlGaN超晶格结构的界面陡峭度可提高35%以上,克服了不同界面陡峭度的不对称性,大大提高了异质界面的质量,并使超晶格发光效率得到有效提升。

著录项

  • 公开/公告号CN103137799B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-03-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 厦门大学;

    申请/专利号CN201310030135.8

  • 发明设计人 蔡端俊;陈小红;康俊勇;

    申请日2013-01-27

  • 分类号H01L33/00(20100101);

  • 代理机构35200 厦门南强之路专利事务所(普通合伙);

  • 代理人马应森

  • 地址 361005 福建省厦门市思明南路422号

  • 入库时间 2022-08-23 09:23:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-10

    著录事项变更 IPC(主分类):H01L 33/00 变更前: 变更后: 申请日:20130127

    著录事项变更

  • 2015-03-04

    授权

    授权

  • 2013-07-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 33/00 申请日:20130127

    实质审查的生效

  • 2013-06-05

    公开

    公开

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