首页> 中国专利> 利用沟道技术和介质浮栅的每单元8位的非易失性半导体存储器结构

利用沟道技术和介质浮栅的每单元8位的非易失性半导体存储器结构

摘要

本申请公开了非易失性半导体存储器,用于存储多至八位的信息。该器件具有:一种导电类型的半导体衬底;在一部分半导体衬底的上面的中央底部扩散区;在底部扩散区上面的第二半导体层;以及左扩散区和右扩散区,其形成在第二半导体层中,与中央底部扩散区隔开,从而在右扩散区和中央底部扩散区之间形成第一竖直沟道。该器件还包括:捕获介质层,形成在半导体衬底、左底部扩散区、中央底部扩散区、右底部扩散区和第二半导体层的暴露部分上;以及形成在捕获介质层上面的字线。并且还公开了利用沟道技术制造这种新颖的单元的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN1160778C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2004-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 马克罗尼克斯美国公司;

    申请/专利号CN00801818.9

  • 发明设计人 龙翔澜;卢道政;王明宗;

    申请日2000-08-25

  • 分类号H01L21/8247;H01L21/00;H01L29/788;

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人谷惠敏

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 08:56:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-07

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/8247 授权公告日:20040804 终止日期:20190825 申请日:20000825

    专利权的终止

  • 2004-08-04

    授权

    授权

  • 2004-08-04

    授权

    授权

  • 2002-09-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-09-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2001-12-19

    公开

    公开

  • 2001-12-19

    公开

    公开

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