集成电路测试方法和采用该测试方法的集成电路测试装置

摘要

在实行功能测试和直流测试的IC测试装置中，在直流测试装置的输出端连接高电阻的电阻器，通过该电阻器的连接，即使在将直流测试装置连接到功能测试装置的状态下，也能正常操作功能测试装置，从而在功能测试的实行过程中插入直流测试，并行实行功能测试和直流测试，将直流测试装置中开关切换这样花费时间的控制在功能测试中实行，使开关切换时间不添加到测试所需的时间上，从而缩短测试时间。