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IEEE North Atlantic Test Workshop
IEEE North Atlantic Test Workshop
召开年:
2018
召开地:
Essex(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
A simplified on-chip calibration method for branch-line coupler
机译:
支线耦合器的简化的片上校准方法
作者:
Wei Jiang
;
Guoan Wang
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Scattering parameters;
Calibration;
Couplers;
System-on-chip;
Standards;
Microwave measurement;
Microwave circuits;
2.
Nanoscale silicon mosfet response to THz radiation for testing VLSI
机译:
纳米级硅mosfet对THz辐射的响应以测试VLSI
作者:
Michael S. Shur
;
John Suarez
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Testing;
Silicon;
Logic gates;
Very large scale integration;
Plasma temperature;
MOSFET;
3.
Enabling fast process variation and fault simulation through macromodelling of analog components
机译:
通过模拟组件的宏建模实现快速的过程变化和故障仿真
作者:
Mehmet Ince
;
Ender Yilmaz
;
Sule Ozev
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Voltage-controlled oscillators;
Integrated circuit modeling;
Circuit faults;
Phase locked loops;
Mathematical model;
Computational modeling;
Transistors;
4.
Reducing test time with FPGA accelerators using OpenCL
机译:
使用OpenCL使用FPGA加速器减少测试时间
作者:
Timothy M. Platt
;
Chen Liu
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Histograms;
Field programmable gate arrays;
Hardware;
Hardware design languages;
Random access memory;
Computational modeling;
Kernel;
5.
Case study on low pin count testing of industry transceiver chip
机译:
工业收发器芯片低引脚数测试的案例研究
作者:
Imtiaz Ahmed
;
Subhash Baraiya
;
Rahul Singhal
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Pins;
Testing;
Transceivers;
Clocks;
Radio frequency;
Circuit faults;
Discrete Fourier transforms;
6.
An analysis of an inexpensive memory test solution
机译:
廉价内存测试解决方案的分析
作者:
Ryan Pennucci
;
Ryan Jurasek
;
Wolfgang Hokenmaier
;
Lester Patrick
;
Jacob Bucci
;
Donald Labrecque
;
David Kinney
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Prototypes;
Test equipment;
Hardware;
Built-in self-test;
Instruments;
Arrays;
7.
New testing approach using near electromagnetic field probing intending to upgrade in-circuit testing of high density PCBAs
机译:
使用近电磁场探测的新测试方法旨在升级高密度PCBA的在线测试
作者:
Nabil El Belghiti Alaoui
;
Patrick Tounsi
;
Alexandre Boyer
;
Arnaud Viard
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Capacitors;
Testing;
Magnetic field measurement;
Probes;
Printed circuits;
Circuit faults;
Electromagnetics;
8.
One more time! Increasing fault detection with scan shift capture
机译:
再一次!通过扫描移位捕获来增加故障检测
作者:
Hui Jiang
;
Fanchen Zhang
;
Yi Sun
;
Jennifer Dworak
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Fault detection;
Standards;
Testing;
Discrete Fourier transforms;
Electrical fault detection;
Clocks;
9.
An enhanced approach to reduce test application time through limited shift operations in scan chains
机译:
通过扫描链中的有限换档操作来降低测试应用时间的增强方法
作者:
Konstantinos Poulos
;
Jayasurya Kuchi
;
Themistoklis Haniotakis
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2017年
关键词:
automatic test pattern generation;
design for testability;
iterative methods;
sequential circuits;
vectors;
10.
Peer pressure on identity: On requirements for disambiguating PUFs in noisy environment
机译:
对身份的同伴压力:关于歧义嘈杂环境消除PUF的要求
作者:
Pavithra Ramesh
;
Vinay C. Patil
;
Sandip Kundu
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2017年
关键词:
Testing;
Reliability;
Authentication;
Databases;
Noise measurement;
Object recognition;
11.
Case study of bandwidth management in SoC testing
机译:
SOC测试中带宽管理的案例研究
作者:
Yu Huang
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2017年
关键词:
Bandwidth;
Pins;
Broadcasting;
Dynamic scheduling;
Testing;
Multicore processing;
Schedules;
12.
Manufacturer turned attacker: Dangers of stealthy trojans via threshold voltage manipulation
机译:
制造商变成了攻击者:通过阈值电压操作通过阈值特洛伊木马的危险
作者:
Vinay C. Patil
;
Arunkumar Vijayakumar
;
Sandip Kundu
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2017年
关键词:
Trojan horses;
Threshold voltage;
Integrated circuits;
Transistors;
Foundries;
Logic gates;
Hardware;
13.
Mitigating simple power analysis attacks on LSIB key logic
机译:
缓解LSIB密钥逻辑的简单功率分析攻击
作者:
Saurabh Gupta
;
Jennifer Dworak
;
Daniel Engels
;
Al Crouch
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2017年
关键词:
Logic gates;
Logic circuits;
Integrated circuit modeling;
Instruments;
Analytical models;
Switches;
14.
Detecting a trojan die in 3D stacked integrated circuits
机译:
在3D堆叠集成电路中检测特洛伊木马模具
作者:
Soha Alhelaly
;
Jennifer Dworak
;
Theodore Manikas
;
Ping Gui
;
Kundan Nepal
;
Alfred L. Crouch
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2017年
关键词:
Through-silicon vias;
Three-dimensional displays;
Delays;
Ring oscillators;
Trojan horses;
Security;
15.
Reducing test time with FPGA accelerators using OpenCL
机译:
使用OpenCL降低与FPGA加速器的测试时间
作者:
Timothy M. Platt
;
Chen Liu
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Histograms;
Field programmable gate arrays;
Hardware;
Hardware design languages;
Random access memory;
Computational modeling;
Kernel;
16.
Nanoscale silicon mosfet response to THz radiation for testing VLSI
机译:
纳米级硅MOSFET对THz辐射进行测试VLSI的响应
作者:
Michael S. Shur
;
John Suarez
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Testing;
Silicon;
Logic gates;
Very large scale integration;
Plasma temperature;
MOSFET;
17.
One more time! Increasing fault detection with scan shift capture
机译:
再一次!随着扫描移位捕获增加故障检测
作者:
Hui Jiang
;
Fanchen Zhang
;
Yi Sun
;
Jennifer Dworak
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Fault detection;
Standards;
Testing;
Discrete Fourier transforms;
Electrical fault detection;
Clocks;
18.
A simplified on-chip calibration method for branch-line coupler
机译:
分支线耦合器简化的片上校准方法
作者:
Wei Jiang
;
Guoan Wang
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Scattering parameters;
Calibration;
Couplers;
System-on-chip;
Standards;
Microwave measurement;
Microwave circuits;
19.
New testing approach using near electromagnetic field probing intending to upgrade in-circuit testing of high density PCBAs
机译:
采用近电磁场探测的新型测试方法升级高密度PCBA的电路测试
作者:
Nabil El Belghiti Alaoui
;
Patrick Tounsi
;
Alexandre Boyer
;
Arnaud Viard
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Capacitors;
Testing;
Magnetic field measurement;
Probes;
Printed circuits;
Circuit faults;
Electromagnetics;
20.
An analysis of an inexpensive memory test solution
机译:
廉价内存测试解决方案分析
作者:
Ryan Pennucci
;
Ryan Jurasek
;
Wolfgang Hokenmaier
;
Lester Patrick
;
Jacob Bucci
;
Donald Labrecque
;
David Kinney
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Prototypes;
Test equipment;
Hardware;
Built-in self-test;
Instruments;
Arrays;
21.
Case study on low pin count testing of industry transceiver chip
机译:
工业收发器芯片低针计数测试的案例研究
作者:
Imtiaz Ahmed
;
Subhash Baraiya
;
Rahul Singhal
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Pins;
Testing;
Transceivers;
Clocks;
Radio frequency;
Circuit faults;
Discrete Fourier transforms;
22.
Enabling fast process variation and fault simulation through macromodelling of analog components
机译:
通过模拟组件的Macromodelix实现快速处理变化和故障模拟
作者:
Mehmet Ince
;
Ender Yilmaz
;
Sule Ozev
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2018年
关键词:
Voltage-controlled oscillators;
Integrated circuit modeling;
Circuit faults;
Phase locked loops;
Mathematical model;
Computational modeling;
Transistors;
23.
Malicious Attacks on Physical Unclonable Function Sensors of Internet of Things
机译:
关于物体互联网物理不可渗透功能传感器的恶意攻击
作者:
Weize Yu
;
Yiming Wen
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2019年
关键词:
Streaming media;
Resource management;
Heuristic algorithms;
Portfolios;
Quality of experience;
Video recording;
Quality assessment;
24.
Improved Random Pattern Delay Fault Coverage Using Inversion Test Points
机译:
使用反转测试点改进随机图案延迟故障覆盖
作者:
Soham Roy
;
Brandon Stiene
;
Spencer K. Millican
;
Vishwani D. Agrawal
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2019年
关键词:
Circuit faults;
Delays;
Logic gates;
Force;
Integrated circuits;
Hardware;
Pins;
25.
Matlab JTAG AXI Master opens new dimensions for development and testability
机译:
MATLAB JTAG AXI主站打开了开发和可测试性的新尺寸
作者:
Mark Fosberry
;
Ben McMahon
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2019年
关键词:
Matlab;
IP networks;
Hardware;
Field programmable gate arrays;
Control systems;
Microprogramming;
Testing;
26.
Convolutional Neural Networks (CNNs)-Assisted Voltage Regulation: A New Power Delivery Scheme
机译:
卷积神经网络(CNNS) - 分配电压调节:一种新型电力输送方案
作者:
Yiming Wen
;
Weize Yu
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2019年
关键词:
Regulators;
Voltage control;
Training;
Random sequences;
Security;
System-on-chip;
Switches;
27.
Behavioral Modeling of a Charge Trap Transistor One Time Programmable Memory
机译:
电荷陷阱晶体管的行为建模一次可编程存储器
作者:
Eric Hunt-Schroeder
;
Darren Anand
;
Edward Hwang
;
Aaron Cummings
;
Matthew Deming
;
Michael Roberge
;
Michael Ziegerhofer
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2019年
关键词:
Arrays;
Built-in self-test;
Memory management;
Hardware design languages;
Data models;
Transistors;
Pins;
28.
Case Study of Advanced Diagnostic Techniques for Multi Port Register File
机译:
多端口寄存器文件的高级诊断技术案例研究
作者:
Uma Srinivasan
;
William Huott
;
Chad Adams
;
Pete Freiburger
;
Franco Stellari
;
Peilin Song
;
Phong Tran
;
Dave Albert
会议名称:
《IEEE North Atlantic Test Workshop》
|
2019年
关键词:
Encoding;
Task analysis;
Computational complexity;
Redundancy;
Galois fields;
Machine learning algorithms;
Data analysis;
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