集成电路测试方法与技术

摘要

●●●●集成电路测试方法与技术该成果具体内容有：１．大型复杂数字电路的测试产生系统，能处理５０００门左右的数字电路，故障覆盖率达９０％以上。２．临界路径跟踪测试产生和平行码临界路径跟踪故障模拟的实验系统，其故障覆盖率达９８％。３．对时延故障提出了Ｐ前...