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用于抗辐射CMOS图像传感器的有源像素结构

摘要

一种用于抗辐射CMOS图像传感器的有源像素结构,有补偿管M14的栅极连接补偿信号,复位管M11的栅极连接复位信号,选通管M13的栅极连接选通信号,补偿管M14的源极、复位管M11的漏极和晶体管M12的漏极均连接电源VDD,补偿管M14的漏极、复位管M11的源极、晶体管M12的栅极和光电二极管PD的N极连在一起,晶体管M12的源极连接选通管M13的漏极,选通管M13的源极连接电流源I的输入端,电流源I的输出端接地,所述的光电二极管PD的P端接地。本发明的用于抗辐射CMOS图像传感器的有源像素结构,可以降低PD自身暗电流对图像质量的影响。同时,本发明的像素可以在总剂量辐照强度较大环境下正常工作,即使有源像素能够工作在强辐照的环境下。

著录项

  • 公开/公告号CN103152531B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201310062297.X

  • 申请日2013-02-27

  • 分类号H04N5/374(20110101);H01L27/146(20060101);

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人杜文茹

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2022-08-23 09:18:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-03-12

    授权

    授权

  • 2013-07-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 5/374 申请日:20130227

    实质审查的生效

  • 2013-06-12

    公开

    公开

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