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一种真空解理大功率半导体激光器腔面氮钝化方法

摘要

一种真空解理大功率半导体激光器腔面氮钝化方法,属于半导体光电子器件工艺技术领域。本发明意义在于在保证半导体激光器输出功率不变的情况下,提高光学灾变阈值,降低激光器退化速率,延长激光器使用寿命。此方法先在真空解理机中把半导体激光器芯片解理成Ba条,此过程通入高纯氮气作为保护气体,使整个解理过程处在高纯氮气的氛围中,减少解理后新鲜腔面悬挂键。解理后,迅速把激光器芯片Bar条放入真空镀膜机,用氮离子进行腔面深度钝化,形成GaN钝化层,再用氢离子去除氮钝化生成无用杂质。在半导体激光器形成GaN钝化层后在前后腔面分别进行增透膜和高反膜镀制。此技术方案可应用于各类大功率半导体激光器制造。

著录项

  • 公开/公告号CN102570294B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-07-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN201210009274.8

  • 发明设计人 崔碧峰;陈京湘;计伟;郭伟玲;

    申请日2012-01-12

  • 分类号H01S5/028(20060101);

  • 代理机构11203 北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘萍

  • 地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2022-08-23 09:15:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-02

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01S 5/028 授权公告日:20130710 终止日期:20150112 申请日:20120112

    专利权的终止

  • 2013-07-10

    授权

    授权

  • 2012-09-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01S 5/028 申请日:20120112

    实质审查的生效

  • 2012-07-11

    公开

    公开

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