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一种基于大规模高密度压阻薄膜的足迹统计分析方法

摘要

本发明公开了一种基于大规模高密度压阻薄膜的足迹统计分析方法。该方法包括:利用压阻薄膜构建压力采集区域,并采集目标行走过程中的压力信号,其中压阻薄膜包含多个力敏感点单元,针对每个力敏感点单元,采用设定的索引进行定位;根据所采集的压力信号,获得足底压力图像的邻接矩阵,该邻接矩阵的每个元素对应相关力敏感点单元的压力大下,每个邻接矩阵对应一个足迹;根据所述邻接矩阵的面积和朝向确定足迹的方向以及内外足弓面积;根据所述内外足弓面积确定脚跟与前掌重心、足迹类别、足迹重心以及足迹步长中的一项或多项。利用本发明能准确、实时、高效地提取足迹特征。

著录项

  • 公开/公告号CN113951870A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院深圳先进技术研究院;

    申请/专利号CN202111126979.3

  • 申请日2021-09-26

  • 分类号A61B5/103(20060101);A61B5/11(20060101);

  • 代理机构11430 北京市诚辉律师事务所;

  • 代理人耿慧敏;朱伟军

  • 地址 518055 广东省深圳市南山区深圳大学城学苑大道1068号

  • 入库时间 2023-06-19 14:00:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-01-21

    公开

    发明专利申请公布

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