公开/公告号CN113782427A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-12-10
原文格式PDF
申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;
申请/专利号CN202111011360.8
申请日2021-08-31
分类号H01L21/3065(20060101);H01L29/06(20060101);H01L29/78(20060101);
代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;
代理人焦健
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
入库时间 2023-06-19 13:40:20
机译: 在半导体器件中刻蚀高深宽比沟槽的方式
机译: 金属辅助化学刻蚀,可制造高深宽比的直硅纳米柱阵列,用于分选应用
机译: 通过使用临时多路复用工艺和射频涡调制技术对高深宽比soi结构进行刻蚀