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刻蚀高深宽比沟槽的工艺方法

摘要

本发明公开了一种刻蚀高深宽比沟槽的工艺方法,在对半导体衬底通入刻蚀气体进行刻蚀形成深沟槽时,通入氟基或氯基气体的聚合物产生气体,随着刻蚀的不断进行,将刻蚀气体的流量逐渐增加,或者是逐渐减低产生聚合物的气体流量来减少聚合物的生成;或者是两者同时进行;通过对刻蚀气体和/或聚合物产生气体的速率的渐变控制,控制形成不同的沟槽形貌。

著录项

  • 公开/公告号CN113782427A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN202111011360.8

  • 申请日2021-08-31

  • 分类号H01L21/3065(20060101);H01L29/06(20060101);H01L29/78(20060101);

  • 代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人焦健

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2023-06-19 13:40:20

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