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在绝缘体上硅晶片上制造基于III-V族的光电器件的方法

摘要

一种在绝缘体上硅晶片上制造基于III‑V族的光电器件的方法。所述绝缘体上硅晶片包括硅器件层、衬底以及在所述衬底与所述硅器件层之间的绝缘体层。所述方法包括以下步骤:提供器件试样,所述器件试样由多个基于III‑V族的层形成;提供所述绝缘体上硅晶片,所述晶片包括具有接合区域的空腔;将所述器件试样转印到所述空腔中,并且将所述器件试样的某一层接合到所述接合区域,使得在所述器件试样的一个或多个侧边周围留下通道;用桥波导材料填充所述通道;以及对所述器件试样、所述绝缘体上硅晶片和/或所述通道执行一个或多个蚀刻步骤,以在所述器件试样中提供基于III‑V族半导体的波导,在所述通道中提供一个或多个桥波导,并且在所述绝缘体上硅晶片中提供硅波导。

著录项

  • 公开/公告号CN113366714A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 洛克利光子有限公司;

    申请/专利号CN202080006324.X

  • 发明设计人 余国民;

    申请日2020-08-25

  • 分类号H01S5/02(20060101);H01S5/20(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人董婕;陈岚

  • 地址 英国柴郡

  • 入库时间 2023-06-19 12:29:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01S 5/02 专利申请号:202080006324X 申请日:20200825

    实质审查的生效

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