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用于填充基板上的间隙特征的方法和相关的半导体结构

摘要

公开了一种用于填充基板表面上的间隙特征的方法。所述方法可包括:提供包含非平坦表面的基板,所述非平坦表面包括一个或多个间隙特征;通过循环沉积工艺在所述一个或多个间隙特征的表面上方沉积金属氧化物膜;使所述金属氧化物与有机配体蒸气接触;和将所述金属氧化物膜的至少一部分转化为多孔材料,从而填充所述一个或多个间隙特征。还公开了包括通过本公开的方法形成的金属‑有机框架材料的半导体结构。

著录项

  • 公开/公告号CN113013084A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASM IP私人控股有限公司;

    申请/专利号CN202011478790.6

  • 发明设计人 L.萨尔米;M.里塔拉;M.莱斯克拉;

    申请日2020-12-15

  • 分类号H01L21/762(20060101);H01L21/02(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人焦玉恒

  • 地址 荷兰阿尔梅勒

  • 入库时间 2023-06-19 11:32:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/762 专利申请号:2020114787906 申请日:20201215

    实质审查的生效

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