公开/公告号CN113013084A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-06-22
原文格式PDF
申请/专利权人 ASM IP私人控股有限公司;
申请/专利号CN202011478790.6
申请日2020-12-15
分类号H01L21/762(20060101);H01L21/02(20060101);
代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;
代理人焦玉恒
地址 荷兰阿尔梅勒
入库时间 2023-06-19 11:32:36
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-12-23
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/762 专利申请号:2020114787906 申请日:20201215
实质审查的生效
机译: 用于填充基板上的间隙特征的方法及相关半导体结构
机译: 用于填充基板表面和相关半导体结构的间隙特征的方法
机译: 用于填充基板表面和相关半导体结构的间隙特征的方法