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公开/公告号CN112885934A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-06-01
原文格式PDF
申请/专利权人 山东浪潮华光光电子股份有限公司;
申请/专利号CN201911201871.9
发明设计人 徐晓强;王梦雪;吴向龙;闫宝华;王成新;
申请日2019-11-29
分类号H01L33/22(20100101);H01L33/00(20100101);
代理机构37105 济南诚智商标专利事务所有限公司;
代理人黄晓燕
地址 261061 山东省潍坊市高新区金马路9号
入库时间 2023-06-19 11:11:32
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-06-14
授权
发明专利权授予
机译: 有效地提高每个晶片具有存储量的良芯片的良率的各种方法和装置
机译: 芯片封装结构及其制造方法,可有效降低制造成本,提高芯片封装结构的良率和可靠性
机译: 半导体芯片堆叠,可提高冗余度并提高良率
机译:白光LED发光效率为100lm / W的决定因素提高倒装芯片安装的良率:开发的键合机可减少20%的位置偏差
机译:具有冗余和部分合格产品的VLSI存储器芯片生产率优化的良率模型
机译:芯片多处理器中提高良率和可靠性的硬件框架
机译:速率控制烧结:一种提高芯片连接互连质量和良率的新颖方法
机译:用于集成电路设计和制造中的良率建模和良率提高的框架。
机译:基于精益六西格玛方法的结构化Syncope护理途径可优化资源利用缩短诊断时间并提高诊断良率
机译:具有可测试性和良率提高的多级全芯片路由
机译:碲化镉材料的空间映射特性及电气响应对提高器件良率和性能的响应