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基于碳化硅平面型MOS结构的肖特基二极管

摘要

本发明涉及一种半导体器件,尤其是一种基于碳化硅平面型MOS结构的肖特基二极管。按照本发明提供的技术方案,所述基于碳化硅平面型MOS结构的肖特基二极管,在所述肖特基二极管的截面上,包括半导体衬底以及设置于所述半导体衬底上的P型阱区,在所述P型阱区的一侧设置负极区结构,在所述P型阱区的另一侧设置正极区结构,且P型阱区与位于所述P型阱区上的栅结构区接触,在所述栅结构区上设置栅极金属,所述栅极金属与栅结构区欧姆接触。本发明有效地降低该半导体器件的开关损耗和提高其开关速度,还可以实现MOS栅沟道控制肖特基二极管的开关,进而提高肖特基二极管的电学性能。

著录项

  • 公开/公告号CN112838131A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江苏东海半导体科技有限公司;

    申请/专利号CN202110025615.X

  • 申请日2021-01-08

  • 分类号H01L29/872(20060101);H01L29/06(20060101);

  • 代理机构32104 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人殷红梅

  • 地址 214142 江苏省无锡市新吴区硕放街道中通东路88号

  • 入库时间 2023-06-19 11:05:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-11

    授权

    发明专利权授予

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