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光学面形局部大误差的补偿干涉测量装置与方法

摘要

本发明公开了一种光学面形局部大误差的补偿干涉测量装置与方法,本发明补偿干涉测量装置包括干涉仪、二维姿态调整平台和三维平移台,所述干涉仪安装固定在二维姿态调整平台上,所述二维姿态调整平台安装固定在三维平移台上,所述干涉仪内部设有探测器以及内部光路系统,所述干涉仪的出光口设有球面镜头,且所述干涉仪的外部光路上安装有针孔板和补偿器,可用于光学面形局部大误差的补偿干涉测量,具有结构简单,光路容易对准的优点;本发明方法基于零位补偿的激光波面干涉原理,测量的分辨率和精度都很高,动态范围大,能测得全口径测量时无法解析的局部大误差,通过多个不同部位的测量数据的拼接,能获得被测镜面上全口径可解析的面形误差。

著录项

  • 公开/公告号CN112504176A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国人民解放军国防科技大学;

    申请/专利号CN202011382187.8

  • 申请日2020-12-01

  • 分类号G01B11/30(20060101);G01B9/02(20060101);

  • 代理机构43008 湖南兆弘专利事务所(普通合伙);

  • 代理人谭武艺

  • 地址 410073 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号

  • 入库时间 2023-06-19 10:16:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-21

    授权

    发明专利权授予

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