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一种ALD结合银纳米线增强法制备高性能ZnO薄膜紫外探测器的方法

摘要

本发明公开了一种ALD结合银纳米线增强法制备高性能ZnO薄膜紫外探测器的方法,属于光电器件技术领域。该方法是在硅片基板上涂覆一层厚度均一的Ag纳米线层;采用原子层沉积法在Ag纳米线层的表面制备ZnO薄膜,获得银纳米线增强的ZnO薄膜;将银纳米线增强的ZnO薄膜进行热处理,得ZnO薄膜紫外探测器。本发明制备的银纳米线增强ZnO基紫外探测器具有等离子激元增强效果,该探测器可有效探测紫外波段的响应光,可以作为紫外探测器的核心组件,适用于应用在航空航天、宇宙探索、民用监测等各领域中。

著录项

  • 公开/公告号CN112310239A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201910700544.1

  • 申请日2019-07-31

  • 分类号H01L31/18(20060101);H01L31/0224(20060101);H01L31/0296(20060101);H01L31/0445(20140101);B82Y20/00(20110101);B82Y40/00(20110101);C23C14/04(20060101);C23C14/16(20060101);C23C14/24(20060101);C23C16/40(20060101);C23C16/455(20060101);C23C16/56(20060101);

  • 代理机构23211 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司;

  • 代理人李恩庆

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2023-06-19 09:44:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-11

    授权

    发明专利权授予

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