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晶圆堆叠方法、晶圆堆叠结构和半导体封装

摘要

公开了一种晶圆堆叠方法、晶圆堆叠结构和半导体封装,该方法包括:在第一晶圆中形成第一硅通孔;在所述第一晶圆的对应所述第一硅通孔的位置上,形成第一焊盘;在所述第一晶圆的靠近所述第一焊盘的一侧,将所述第一晶圆键合到第二晶圆;在所述第一晶圆的背离所述第一焊盘的一侧,形成至少一个第一凹槽;在所述至少一个第一凹槽中埋入至少一个第一芯片;以及在所述第一晶圆的靠近所述至少一个第一芯片的一侧,形成第一金属布线。

著录项

  • 公开/公告号CN112234053A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 联合微电子中心有限责任公司;

    申请/专利号CN202011104660.6

  • 发明设计人 李仁雄;陈世杰;吴罚;

    申请日2020-10-15

  • 分类号H01L25/18(20060101);H01L21/98(20060101);

  • 代理机构11602 北京市汉坤律师事务所;

  • 代理人姜浩然;吴丽丽

  • 地址 401332 重庆市沙坪坝区西园一路28号附2号

  • 入库时间 2023-06-19 09:35:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-04

    授权

    发明专利权授予

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