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用于形成半导体器件中的片上电容器结构的方法

摘要

公开了半导体器件以及用于形成半导体器件的方法的实施例。在示例中,公开了一种用于形成半导体器件的方法。在衬底的第一侧上形成第一层间电介质(ILD)层。形成多个第一触点,每个第一触点贯穿第一ILD层垂直地延伸并且与衬底接触。从与衬底的第一侧相对的第二侧对衬底进行减薄。形成多个电介质切口,每个电介质切口贯穿减薄的衬底垂直地延伸,以将减薄的衬底分隔成多个半导体块,使得多个半导体块分别与多个第一触点接触。

著录项

  • 公开/公告号CN112219289A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长江存储科技有限责任公司;

    申请/专利号CN202080002240.9

  • 发明设计人 陈亮;

    申请日2020-09-02

  • 分类号H01L49/02(20060101);H01L27/11582(20170101);H01L27/11573(20170101);H01L27/11565(20170101);G11C5/10(20060101);

  • 代理机构11376 北京永新同创知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘柳;杨锡劢

  • 地址 430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号

  • 入库时间 2023-06-19 09:32:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-05-02

    授权

    发明专利权授予

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