机译:关于半导体器件的硅基板中的位错产生的预测方法的提案,关于位错产生的强度对器件结构的依赖性-
dislocation; ilicon; silicon nitride; glide plane; stress singularity parameters;
机译:半导体器件硅基板中脱位生成预测方法的提议 - 设备结构脱位生成强度的依赖性
机译:用于半导体器件硅基板中脱位生成预测方法的提议依赖于设备结构脱位生成强度的依赖性 -
机译:关于半导体器件的硅基板中的位错产生的预测方法的提案,关于位错产生的强度对器件结构的依赖性-
机译:具有深沟槽的0.18μm功率半导体器件中位错产生的微光致发光成像
机译:用于深紫外光电器件的硅掺杂高铝含量AlGaN层中的位错减少
机译:多孔硅基适应传感器:用于健康监控的下一代无标签设备
机译:半导体器件硅基板中位错产生的方法