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一种大电流低漏电碳化硅二极管芯片及其制作方法

摘要

本发明提供了一种大电流低漏电碳化硅二极管芯片及其制作方法,由下至上依次叠设背面电极、衬底、N‑型外延层、P+型外延层和正面电极,背面电极、衬底和N‑型外延层的规格相一致,三者相贴覆叠置,P+型外延层规格小于N‑型外延层规格,P+型外延层位于N‑型外延层的中间位置,P+型外延层的外周露出N‑型外延层形成N结构区域,正面电极的规格小于P+型外延层的规格,N结构区域由下至上依次覆盖钝化层、覆聚酰亚胺层。本发明利用碳化硅双层外延方法和等离子刻蚀方法实现,避免了离子注入产生的缺陷。本二极管芯片的尺寸可以做很大,实现100A以上产品制作。同时还具有操作简单、生产效率高、可靠性好等特点。

著录项

  • 公开/公告号CN112151621A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 济南新芯微电子有限公司;

    申请/专利号CN202011098760.2

  • 发明设计人 田李庄;

    申请日2020-10-14

  • 分类号H01L29/861(20060101);H01L29/06(20060101);H01L21/329(20060101);

  • 代理机构37329 山东明宇知信知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人钟文强

  • 地址 250000 山东省济南市高新新宇路南首齐鲁软件园九层908房间

  • 入库时间 2023-06-19 09:23:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-06-09

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L29/861 专利申请号:2020110987602 申请公布日:20201229

    发明专利申请公布后的驳回

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