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5G通讯用GaN功率器件的Γ栅制作方法

摘要

本发明涉及5G通讯用GaN功率器件的Γ栅制作方法,包括以下步骤:一、在GaN基片上利用PECVD生长工艺淀积氮化硅介质一层;二、利用光刻工艺在氮化硅介质一层制作光刻图形;三、利用RIE刻蚀工艺进行刻蚀;四、再次利用PECVD生长工艺淀积氮化硅介质二层;五、利用光刻工艺制作光刻图形;六、利用ICP刻蚀设备进行刻蚀;七、利用光刻工艺制作光刻图形;八、利用蒸发设备在步骤七的光刻图形之间进行镍、钛、铂和金四层金属分别一层层的蒸发;九、利用剥离设备完成制作。本发明提高了器件的击穿电压,增加了器件的工作电压,提高了器件的工作效率,增强了器件的可靠性,在5G基站的建设中具有重大的实用价值。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-10-27

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L21/335 专利申请号:202010705887X 申请公布日:20201127

    发明专利申请公布后的驳回

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