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一种评估大规模光交换集成芯片性能的仿真系统

摘要

本发明公开了一种评估大规模光交换集成芯片性能的仿真系统,包括光交换控制单元模拟器和光交换集成芯片仿真器;其中,光交换控制单元模拟器根据光开关单元参数表设置光开关连接矩阵中光开关单元参数,根据交换连接需求运行路由算法,将生成的光开关状态存储在光开关状态表中,通过控制接口模块从光开关状态表存储模块中选择一种光开关状态表,并从光开关单元参数表中读取参数,控制接口模块连接每个待仿真的光开关单元,完成仿真光开关单元参数设置和开关状态控制,进而实现光交换集成芯片性能的仿真。

著录项

  • 公开/公告号CN111931376A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202010810684.7

  • 发明设计人 武保剑;冉启山;谭磊;文峰;邱昆;

    申请日2020-08-13

  • 分类号G06F30/20(20200101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人温利平

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 08:53:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-26

    授权

    发明专利权授予

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