首页> 中文期刊>光通信技术 >32×32 Benes光交换芯片的串扰性能评估

32×32 Benes光交换芯片的串扰性能评估

     

摘要

光交换芯片作为下一代全光通信网络的核心器件,其串扰性能严重影响着光交换节点的容量.为了评估光交换芯片对通信系统的劣化程度影响,基于硅基马赫-曾德尔干涉仪电光开关,构建了 32×32 Benes结构的光交换集成芯片的仿真模型,分析了光交换芯片串扰与光开关单元串扰之间的关系,研究了光交换芯片对光纤通信系统的影响.仿真结果表明:对于单偏振200 Gb/s 64QAM信号,光接收机灵敏度劣化程度对开关单元串扰的依赖性可用线性分母的有理函数表达,当每个光开关单元的串扰小于-46 dB时,光接收机灵敏度劣化程度不超过0.5 dB.

著录项

  • 来源
    《光通信技术》|2021年第5期|26-31|共6页
  • 作者单位

    电子科技大学信息与通信工程学院 成都611731;

    电子科技大学光纤传感与通信教育部重点实验室 成都611731;

    电子科技大学信息与通信工程学院 成都611731;

    电子科技大学光纤传感与通信教育部重点实验室 成都611731;

    电子科技大学信息与通信工程学院 成都611731;

    电子科技大学光纤传感与通信教育部重点实验室 成都611731;

    电子科技大学信息与通信工程学院 成都611731;

    电子科技大学光纤传感与通信教育部重点实验室 成都611731;

    电子科技大学信息与通信工程学院 成都611731;

    电子科技大学光纤传感与通信教育部重点实验室 成都611731;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 集成光学器件;
  • 关键词

    光交换集成芯片; Benes结构; 串扰; 64阶脉冲幅度调制; 灵敏度劣化;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号