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一种紫外双波长辐射测温方法

摘要

本发明公开了一种紫外双波长辐射测温方法,在未知物体的光谱发射率的情况下,应用双波长辐射测温,所述双波长在200nm至400nm范围,逼近测量高温物体的表面真实温度,并且近乎消除观测窗口被污染对测量造成的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN111928950A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量科学研究院;

    申请/专利号CN202010798952.8

  • 发明设计人 张金涛;董伟;卢小丰;

    申请日2020-08-11

  • 分类号G01J5/00(20060101);

  • 代理机构11588 北京华仁联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈建

  • 地址 100013 北京市朝阳区北三环东路18号

  • 入库时间 2023-06-19 08:53:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-29

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01J 5/00 专利申请号:2020107989528 申请公布日:20201113

    发明专利申请公布后的驳回

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