首页> 中国专利> 一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法

一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法

摘要

一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法,本发明涉及一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法。本发明的目的是为了解决现有的稀土离子荧光强度测温技术在较高温度区间内的相对灵敏度会急剧衰减的问题,本发明在303到783K的温度范围内,记录稀土Tb3+离子在氙灯经过分光后的310nm和378nm的光源激发下所发出的中心波长位于545nm的绿色荧光的强度比,该强度比和温度之间的函数关系即为测温曲线,可以用来测量未知环境的温度。基于该方法,能够在较高温度区间内获得更加灵敏的温度响应,明显优于目前常规光学方法所能达到的灵敏度,本发明应用于荧光强度比测温领域。

著录项

  • 公开/公告号CN109540326B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201811377326.0

  • 发明设计人 张治国;李磊朋;秦峰;

    申请日2018-11-19

  • 分类号G01K11/00(20060101);

  • 代理机构23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人岳泉清

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 11:23:17

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号