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一种基于比色的紫外双波长辐射测温方法

摘要

本发明公开了一种基于比色的紫外双波长辐射测温方法,对具有高温表面的待测温物体进行测量;提供第一紫外波长探测器和第二紫外波长探测器,所述第一紫外波长探测器和第二紫外波长探测器分别对所述高温表面的辐射信号进行探测;所述第一紫外光探测器采集第一紫外光信号,所述第二紫外光探测器采集第二紫外光信号;所述第一紫外光信号和第二紫外光信号之间具有小于等100nm的波长差。本发明可以逼近表面真实温度,并且能够近乎消除观测窗口被污染给测量造成的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN111928951A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量科学研究院;

    申请/专利号CN202010799098.7

  • 发明设计人 张金涛;董伟;卢小丰;

    申请日2020-08-11

  • 分类号G01J5/00(20060101);

  • 代理机构11588 北京华仁联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈建

  • 地址 100013 北京市朝阳区北三环东路18号

  • 入库时间 2023-06-19 08:53:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-30

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01J 5/00 专利申请号:2020107990987 申请公布日:20201113

    发明专利申请公布后的驳回

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