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高度缩放的线性GaN HEMT结构

摘要

一种晶体管包括衬底、耦合到衬底的沟道层、耦合到沟道层的源极、耦合到沟道层的漏极、以及在源极与漏极之间耦合到沟道层的栅极。栅极在靠近沟道层之处具有小于50纳米的长度尺寸,并且沟道层包括至少第一GaN层和在第一GaN层上的第一缓变AlGaN层。

著录项

  • 公开/公告号CN111868931A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HRL实验室有限责任公司;

    申请/专利号CN201880088743.5

  • 申请日2018-12-12

  • 分类号H01L29/778(20060101);H01L29/66(20060101);H01L29/10(20060101);H01L29/417(20060101);

  • 代理机构11412 北京鸿德海业知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人于未茗

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 08:42:38

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