公开/公告号CN111769102A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-10-13
原文格式PDF
申请/专利权人 杭州广立微电子有限公司;
申请/专利号CN202010678509.7
发明设计人 陈海平;
申请日2020-07-15
分类号H01L23/544(20060101);H01L21/67(20060101);
代理机构32393 江苏坤象律师事务所;
代理人赵新民
地址 310012 浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座
入库时间 2023-06-19 08:33:20
机译: 形成测试结构以确定LDD长度对晶体管性能影响的方法
机译: 测试结构以确定LDD长度对晶体管性能的影响
机译: 用于在多相机系统中使用双嵌入结构来检测道路用户事件的,用于提高分割性能的学习方法和学习设备,以及使用该学习方法和学习设备的测试方法和测试设备。 {用于改善在多相机系统中使用双嵌入配置来检测道路用户事件的分段性能的学习方法和学习装置,以及使用相同方法的测试方法和测试设备}