首页> 美国政府科技报告 >Performance Characteristics of In(0.53)Ga(0.47)As/In(0.52)Al(0.48)As Modulation-Doped Field-Effect Transistors Realized by Two-Step Epitaxy: Effects of Molecular-Beam Epitaxial Regrowth
【24h】

Performance Characteristics of In(0.53)Ga(0.47)As/In(0.52)Al(0.48)As Modulation-Doped Field-Effect Transistors Realized by Two-Step Epitaxy: Effects of Molecular-Beam Epitaxial Regrowth

机译:In(0.53)Ga(0.47)as / In(0.52)al(0.48)作为调制掺杂场效应晶体管的两步外延实现的性能特征:分子束外延再生的影响

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