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一种氧化锆/氧化铪铁电薄膜及其制备方法和应用

摘要

本发明公开了一种氧化锆/氧化铪铁电薄膜及其制备方法和应用,该薄膜的组成为HfZrO4,晶型为斜方晶型,其制备方法为采用磁控溅射沉积的方法,将氧化铪的靶材和氧化锆的靶材同时连接相同功率的工作电压,利用惰性气体同时轰击两个靶材来获得氧化锆/氧化铪混合薄膜,经快速退火处理,得氧化锆/氧化铪铁电薄膜。本发明通过混合两种不同的氧化物(氧化锆和氧化铪)材料,并通过快速退火处理,使获得的铁电体的极化后的极性更加的稳定,进而实现数据稳定存储功能本发明充分提高了铁电体的极化性能,满足了铁电体作为存储单元的应用需求。

著录项

  • 公开/公告号CN111763917A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东华芯半导体有限公司;

    申请/专利号CN202010613192.9

  • 发明设计人 王萱;孙中琳;刘尚;刘大铕;

    申请日2020-06-30

  • 分类号C23C14/35(20060101);C23C14/08(20060101);C23C14/58(20060101);

  • 代理机构37218 济南泉城专利商标事务所;

  • 代理人李桂存

  • 地址 250101 山东省济南市高新区新泺大街1768号齐鲁软件园大厦B座二层

  • 入库时间 2023-06-19 08:31:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-23

    授权

    发明专利权授予

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