公开/公告号CN111983435A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-11-24
原文格式PDF
申请/专利权人 西安微电子技术研究所;
申请/专利号CN202010872900.0
申请日2020-08-26
分类号G01R31/3167(20060101);
代理机构61200 西安通大专利代理有限责任公司;
代理人马贵香
地址 710065 陕西省西安市雁塔区太白南路198号
入库时间 2023-06-19 08:04:59
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-01-10
授权
发明专利权授予
机译: 一种用于测试具有至少两个电路核心的集成电路芯片的方法以及集成电路芯片和测试系统
机译: 用于消费,商业,工业应用的集成电路芯片,具有连接到测试垫的测试元件组电路,用于测量内部电路的半导体器件的电气特性
机译: 一种用于测试集成电路芯片的可靠性的方法以及用于执行该测试的电路。