integrated circuit testing; integrated circuit noise; capacitors; electromagnetic compatibility; electromagnetic coupling; test-chip; electromagnetic emission reduction; integrated circuits; on-chip decoupling capacitor blocks; TEM-cell method; chip level measurements;
机译:8位微控制器上的高效片上去耦电容器设计,可减少同时的开关噪声和电磁辐射发射
机译:片上瞬态检测电路,可满足CMOS集成电路中系统级ESD保护的要求,符合电磁兼容性规定
机译:集成光子电路的圆偏振光片上合成
机译:一种测试芯片,以表征片上解耦以减少集成电路电磁排放的益处
机译:3-D集成电路中片上去耦电容器的有效距离计算。
机译:用于片上温度监控的CMOS-SOI集成温度感测电路的研究
机译:用于系统分析的集成电路电磁辐射建模
机译:片上采样器在集成电路测试和测量中的应用