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基于场板结构的AlGaN或GaN紫外雪崩光电探测器及其制备方法

摘要

本发明公开了一种基于场板结构的AlGaN或GaN紫外雪崩光电探测器,包括一AlGaN或GaN APD器件,AlGaN或GaN APD器件的两侧形成角度在15°‑30°的斜坡,斜坡上设置有金属场板,所述场板覆盖结区,与p型电极相连,与n型电极不相连。还公开了其制备方法。本发明利用厚膜光刻胶回流的方法,在AlGaN APD器件上形成平缓的倾斜侧壁。利用倾斜侧壁,可以控制场板在侧壁上延伸的长度,既能实现对结区的覆盖,又不超过有效范围,进而发挥场板、绝缘层、半导体之间的MOS效应,扩展器件结区的耗尽区宽度,抑制器件结区的峰值电场。

著录项

  • 公开/公告号CN109004056A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京南大光电工程研究院有限公司;

    申请/专利号CN201810749505.6

  • 发明设计人 陈敦军;游海帆;谢自力;

    申请日2018-07-10

  • 分类号

  • 代理机构江苏斐多律师事务所;

  • 代理人张佳妮

  • 地址 210046 江苏省南京市经济技术开发区恒发路28号04幢

  • 入库时间 2023-06-19 07:38:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L31/109 申请日:20180710

    实质审查的生效

  • 2018-12-14

    公开

    公开

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