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一种PVT法生长大尺寸半绝缘碳化硅单晶的生长方法

摘要

本发明提供了一种PVT法生长大尺寸半绝缘碳化硅单晶的生长方法,它主要包括以下控制阶段:SiC粉末制备、装炉抽真空、排除杂质气体、快速升温加压、降压恒温、晶体生长、收尾阶段和退火。采用PVT法生长碳化硅单晶,首先对原料进行预处理,提高了原料的纯度和密度,减少了晶体中可能出现的缺陷,将SiC粉末装炉,抽真空后通过控制温度在1300~1400℃范围内一段时间以排除杂质气体,充入高纯氩气后快速升温至2100~2400℃。当温度恒定在某一值后,在保持温度平稳的情况下逐渐降低气压,此时粉源开始升华至籽晶处开始生长,晶体生长到一定程度进行收尾阶段,充入氩气停止加热结束SiC晶体的生长,最后经过退火完成晶体生长。本发明能降低晶体中的缺陷和杂质浓度得到大尺寸半绝缘4H‑SiC单晶。

著录项

  • 公开/公告号CN107904657A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨奥瑞德光电技术有限公司;

    申请/专利号CN201711189841.1

  • 发明设计人 左洪波;杨鑫宏;李铁;阎哲华;

    申请日2017-11-24

  • 分类号C30B23/00(20060101);C30B29/36(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街357号

  • 入库时间 2023-06-19 04:58:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B23/00 申请日:20171124

    实质审查的生效

  • 2018-04-13

    公开

    公开

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