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一种基于扩展核熵负载矩阵的MKECA发酵过程故障监测方法

摘要

一种基于扩展核熵负载矩阵的MKECA发酵过程故障监测方法,属于故障监测技术领域。包括“离线建模”和“在线监测”。“离线建模”步骤:首先将采集到的三维数据进行降维和标准化处理,利用核熵成分分析数据的主元信息;之后将时间扩展到核熵负载矩阵当中,生成核熵扩展负载矩阵,并计算核熵扩展负载矩阵间的相似度;最后,利用模糊‑C均值对其进行阶段划分,建立KECA监测模型,计算统计量和相应的控制限。“在线监测”步骤:将采集到的数据进行标准化处理,计算统计量和控制限;与离线控制限比较,若未超限,说明生产过程正常,否则,说明生产过程发生故障。本发明解决跳变点错分阶段的问题,使划分的阶段更加精确,降低误报和漏报率。

著录项

  • 公开/公告号CN107895224A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN201711052426.1

  • 发明设计人 高学金;杨彦霞;王普;

    申请日2017-10-30

  • 分类号G06Q10/06(20120101);G06F17/16(20060101);G06Q50/04(20120101);

  • 代理机构11203 北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人张立改

  • 地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2023-06-19 04:58:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06Q10/06 申请日:20171030

    实质审查的生效

  • 2018-04-10

    公开

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