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包括功率半导体的晶片级芯片规模封装件及其制造方法

摘要

一种包括功率半导体的晶片级芯片规模封装件及其制造方法。晶片级芯片规模封装件包括:功率半导体,包括形成在半导体基底上的第一半导体器件和形成在所述半导体基底上的第二半导体器件;公共漏极,连接到第一半导体器件和第二半导体器件;第一源极金属凸块,形成在第一半导体器件的表面上;第二源极金属凸块,形成在第二半导体器件的表面上,其中,第一源极金属凸块、公共漏极和第二源极金属凸块按第一源极金属凸块、公共漏极和第二源极金属凸块的顺序形成电流通路。

著录项

  • 公开/公告号CN107492543A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美格纳半导体有限公司;

    申请/专利号CN201710251805.7

  • 发明设计人 朴命镐;金范洙;金善焕;

    申请日2017-04-18

  • 分类号H01L25/07(20060101);H01L21/98(20060101);H01L23/482(20060101);

  • 代理机构11286 北京铭硕知识产权代理有限公司;

  • 代理人姜长星;张川绪

  • 地址 韩国忠清北道清州市

  • 入库时间 2023-06-19 04:06:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L25/07 申请日:20170418

    实质审查的生效

  • 2017-12-19

    公开

    公开

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