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1.
Real-Time shceduling of HMLV productions using the optimum production cycle extended by ATSP solver
机译:
使用ATSP求解器扩展的最佳生产周期对HMLV生产进行实时调度
作者:
Sumika Arima
;
Huizhen Bu
;
Yi-Fang Wang
;
Yuri Ishizaki
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Optimization;
Job shop scheduling;
Real-time systems;
Processor scheduling;
Production systems;
Manufacturing;
2.
Resolution of die chippings thru determination of occur and escape cause at automatic optical inspection process — Wiljelm Carl K. Olalia
机译:
通过在自动光学检查过程中确定发生和逸出的原因来解决芯片碎片的问题— Wiljelm Carl K. Olalia
作者:
Leo Angelo D. Oabel
;
Glenn T. Placido
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Image edge detection;
Silicon;
Semiconductor device modeling;
Chemical elements;
Automatic optical inspection;
Acceleration;
3.
Target and uniformity controls of WLP in SSL/LED manufacturing
机译:
SSL / LED制造中WLP的目标和一致性控制
作者:
Keung Hui
;
K M Chen
;
Simon Chang
;
Y C Lu
;
Leo Ke
;
S Y Sheen
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
MOCVD;
Heating systems;
Light emitting diodes;
Tools;
Temperature measurement;
4.
The productivity opportunities by applying machine learning algorithms in a fab
机译:
通过在工厂中应用机器学习算法来提高生产率
作者:
C.Y. Lai
;
P.F. Tsai
;
Steven Chang
;
Y.C. Wang
;
L.W. Teng
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Machine learning algorithms;
Training;
Data models;
Biological neural networks;
Tools;
Computational modeling;
5.
A promising solution to reduce plasma induced damage (PID) of high density plasma (HDP) oxide without sacrificing the gap-fill and throughput performance — Chin-Tsan Yeh
机译:
一种有希望的解决方案,可以在不牺牲间隙填充和通量性能的情况下,减少高密度等离子体(HDP)氧化物的等离子体诱导损伤(PID)— Chin-Tsan Yeh
作者:
Chia-Sheng Yu
;
Ying-Tso Chen
;
Yen-Hao Shih
;
Chih-Yuan Lu
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Logic gates;
Plasmas;
MOSFET;
Metals;
Electric breakdown;
Extinction coefficients;
Throughput;
6.
New RMS design based on SEMI E170 secured foundation of recipe management system — Masahide Hirouchi
机译:
基于SEMI E170的新RMS设计为配方管理系统奠定了坚实的基础— Masahide Hirouchi
作者:
Ryuhichiroh Hattori
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Business;
Security;
Production facilities;
Standards;
Manufacturing;
Facsimile;
7.
The application of TRIZ algorithm solve the problem of byproduct Hsin, Yi-Fang
机译:
TRIZ算法的应用解决了副产物辛义芳的问题
作者:
Chen Guan-Ting
;
Chou Ming-Kuan
;
Huang Kuo-Chan
;
Lu Chien-Hui
;
Tseng Yun-Chieh
;
Chao Chia-chi
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Technological innovation;
Thermal stability;
Surface treatment;
Heating systems;
Semiconductor device modeling;
Patents;
Quality function deployment;
8.
Safety shutdown of process equipment by automatic remote operation — Kuniaki Ishimoto
机译:
通过自动远程操作安全关闭过程设备—石本邦明
作者:
Takeshi Watanabe
;
Hidenori Tanaka
;
Makoto Arinaga
;
Yasunori Fuchikami
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Earthquakes;
Process control;
Hazards;
Alarm systems;
Image recognition;
Robots;
9.
A novel method of WTW for productivity improvement — Stephen Tseng
机译:
WTW用于提高生产率的新方法—曾志刚
作者:
Ji Fu Kung
;
Y B Hsu
;
James Lin
;
C W Yang
;
N S Shen
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Tools;
Productivity;
Data visualization;
Substrates;
Data mining;
Standards;
10.
Wafer pattern classification and auto disposition by machine learning — James Lin
机译:
晶圆模式分类和通过机器学习自动配置-James Lin
作者:
Ji Fu Kung
;
Patrick Cheng
;
Austin Hwu
;
Chuang Tse Wang
;
Y B Hsu
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Tools;
Semiconductor device modeling;
Pattern classification;
Text mining;
Machine learning;
Feature extraction;
11.
Real-Time resource allocations and shceduling of product-mix production systems with multi-type jigs
机译:
带有多类型夹具的产品组合生产系统的实时资源分配和调度
作者:
Sumika Arima
;
Huizhen Bu
;
Yutaka Akiyama
;
Hiroyuki Motomiya
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Resource management;
Job shop scheduling;
Fixtures;
Real-time systems;
Optimization;
Manufacturing;
12.
Base on bias and process capability index monitoring mechanism to improve tool consistency
机译:
基于偏差和过程能力指标的监视机制,以提高工具的一致性
作者:
Tzu-Ting Wang
;
Ya-Juan Chan
;
Ching-Wen Chung
;
Wei-Fu Chang
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Tools;
Semiconductor device measurement;
Monitoring;
Manuals;
Process control;
System analysis and design;
Industries;
13.
Device scaling vs. process control scaling: Advanced sensorization closes the gap — Alan Weber
机译:
设备缩放与过程控制缩放:先进的传感器技术缩小了差距— Alan Weber
作者:
Boyd Finlay
;
Mark Reath
;
Jack Downey
;
Chris Reeves
;
Jeff Wood
;
Patrick Minton
;
Niels Rackwitz
;
Eric Warren
;
Brian Conerny
;
Mohamed Elmrabet
;
Ray Bunkofske
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Process control;
Data collection;
Standards;
Real-time systems;
Control design;
14.
Dynamic scheduling of product-mix production systems of MTS and MTO
机译:
MTS和MTO的产品组合生产系统的动态调度
作者:
Sumika Arima
;
Yutong Zhang
;
Yutaka Akiyama
;
Yuri Ishizaki
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Dispatching;
Job shop scheduling;
Manufacturing;
Production systems;
Processor scheduling;
Indexes;
15.
Understanding and controlling wafer surface contamination at wafer level chip scale package — Wiljelm Carl K. Olalia
机译:
了解和控制晶片级芯片规模封装的晶片表面污染— Wiljelm Carl K. Olalia
作者:
Kristine B. Bongat
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Contamination;
Acceleration;
Ink;
Curing;
Productivity;
Market research;
Metals;
16.
An universal method to optimize shrunken distance of the step plate Tseng, Yun-Chieh
机译:
优化台阶板缩距的通用方法曾允杰
作者:
Chien-Hui Lu
;
Chien-jung Chiu
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Sputtering;
Atomic layer deposition;
Argon;
Surface treatment;
Failure analysis;
Solids;
17.
To improve the measure fail rate On SEM through six sigma DMAIC methodology — Chien-Hui Lu
机译:
通过六西格玛DMAIC方法提高SEM的测量失败率-卢建辉
作者:
Ricky Lu
;
C C Chao
;
Yi Cheng
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Six sigma;
Semiconductor device measurement;
Scanning electron microscopy;
Process control;
Tools;
Phase measurement;
18.
Dual port SRAM read-disturb-write mechanism and design for test
机译:
双端口SRAM读写扰动机制和测试设计
作者:
Robert Kuo-Hung Lo
;
Shaw-Wei Lu
;
Jordan Hsu
;
Quincy Li
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Clocks;
Ports (Computers);
Silicon;
Two dimensional displays;
Random access memory;
Failure analysis;
Adaptation models;
19.
ANYSYS chip-level and wafer-level simulation on semiconductor process development — Yu-Chih Chang
机译:
半导体工艺开发的ANSYS芯片级和晶圆级仿真— Yu-Chih Chang
作者:
Chi-Min Chen
;
Yung-Tai Hung
;
Tuung Luoh
;
Tahone Yang
;
Kuang-Chao Chen
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Finite element analysis;
Semiconductor device modeling;
Metals;
Stress;
Strain;
Grain size;
Layout;
20.
A practical flow regarding 2nd party audit on quality proficiency in supplier management — Chien-Hui Lu
机译:
关于供应商管理中第二级质量熟练程度审核的实用流程—卢建辉
作者:
Demeter Chen
;
Wei-Fu Chang
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Tools;
Process control;
Control charts;
Automotive engineering;
Industries;
Standards;
Semiconductor device measurement;
21.
Particle removal efficiency evaluation of filters in high temperature IPA
机译:
高温IPA中过滤器的颗粒去除效率评估
作者:
Tomoyuki Takakura
;
Shusaku Daikoku
;
Shuichi Tsuzuki
会议名称:
《2017 Joint International Symposium on e-Manufacturing and Design Collaboration amp; Semiconductor Manufacturing》
|
2017年
关键词:
Temperature measurement;
Heating systems;
Chemicals;
Atmospheric measurements;
Particle measurements;
Temperature dependence;
Pollution measurement;
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