一种模块化IC测试座及IC测试装置

摘要

本发明提供了一种模块化IC测试座及IC测试装置，涉及芯片测试技术领域。该模块化IC测试座包括底座和用于连接被测IC和测试电路的模块组件，模块组件包括固定于底座且相互贴靠的多个限位片和用于连接被测IC和测试电路的多个弹片，每个限位片上均设置有多个与弹片相配合的第一限位通孔，多个限位片的第一限位通孔形成的通孔矩阵与被测IC的点位相适应，底座的底壁上设置有用于弹片伸出与测试电路接触的第一通道缺口。其通过调整限位片的个数和限位片中弹片数量，实现第一限位通孔形成的通孔矩阵与被测IC的电位相适应，从而实现对不同尺寸的IC进行测定。该IC测试装置包括上述模块化IC测试座，能够适应不同尺寸的IC，通用性强。