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一种模块化IC测试座及IC测试装置

摘要

本实用新型提供了一种模块化IC测试座及IC测试装置,模块化IC测试座包括底座以及与所述底座转动连接的上盖;所述底座与所述上盖之间连接有牵引绳;所述牵引绳的两端均固定连接有套环,所述底座以及所述上盖的同一侧壁均可拆设置有固定柱,所述固定柱端部固定连接有用于锁紧所述套环的固定盘,所述固定盘端面圆直径尺寸大于所述套环端面圆直径尺寸。本实用新型通过上述技术方案,实现对上盖与底座之间展开角度的控制效果。

著录项

  • 公开/公告号CN215866809U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-02-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 赣州中芯一峰电子有限公司;

    申请/专利号CN202122027995.9

  • 发明设计人 李金峰;李建祥;

    申请日2021-08-26

  • 分类号G01R1/04(20060101);G01R31/28(20060101);

  • 代理机构42237 武汉华强专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人温珊姗

  • 地址 341000 江西省赣州市赣州经济技术开发区赣州综合保税区振兴大道以北、创业北路以东的1#标准厂房3层东侧和4层

  • 入库时间 2022-08-23 04:53:41

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