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NAND闪存存储单元、存储单元阵列结构及其形成方法

摘要

一种NAND闪存存储单元、存储单元阵列结构及其形成方法。所述NAND闪存存储单元包括:半导体衬底;位于所述半导体衬底上的鳍部,所述鳍部包括在竖向上层叠的源极层、沟道层和漏极层,所述沟道层位于所述源极层和漏极层中间;隧穿介质层,覆盖在部分所述鳍部的顶部和两侧;电荷陷阱层,覆盖在所述隧穿介质层的顶部和两侧;栅介质层,覆盖在所述电荷陷阱层的顶部和两侧;栅极,覆盖在所述栅介质层的顶部和两侧。所述NAND闪存存储单元具有很好的工艺尺寸持续缩小能力,并且所述NAND闪存存储单元能够从器件结构上解决存储单元读取干扰的问题。同时,所述NAND闪存存储单元阵列结构的形成方法简单,工艺成本降低。

著录项

  • 公开/公告号CN105810684A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-07-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海复旦微电子集团股份有限公司;

    申请/专利号CN201410854908.9

  • 申请日2014-12-31

  • 分类号H01L27/115(20060101);H01L21/8247(20060101);H01L21/28(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴圳添;骆苏华

  • 地址 200433 上海市杨浦区国泰路127号复旦国家大学科技园4号楼

  • 入库时间 2023-06-19 00:08:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/115 申请日:20141231

    实质审查的生效

  • 2016-07-27

    公开

    公开

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