首页> 中国专利> 高纯度氟化烃、其作为等离子体蚀刻用气体的用途以及等离子体蚀刻方法

高纯度氟化烃、其作为等离子体蚀刻用气体的用途以及等离子体蚀刻方法

摘要

本发明是用式:R-F(式中,R表示异丁基或叔丁基)表示的氟化烃、该氟化烃作为等离子体蚀刻用气体的用途、以及使用所述氟化烃作为等离子体蚀刻用气体对层叠在硅或硅氧化物膜上的无机氮化物膜进行选择性等离子体蚀刻的等离子体蚀刻方法,所述氟化烃的特征在于,纯度为99.9体积%以上,所包含的丁烯类合计为1000体积ppm以下。

著录项

  • 公开/公告号CN105683139A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本瑞翁株式会社;

    申请/专利号CN201480058513.6

  • 发明设计人 杉本达也;

    申请日2014-10-28

  • 分类号C07C19/08;H01L21/3065;

  • 代理机构北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人袁波

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2023-12-18 15:55:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):C07C19/08 申请日:20141028

    实质审查的生效

  • 2016-06-15

    公开

    公开

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