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半导体封装过程中保护焊点免受污染的方法

摘要

本发明属于半导体封装技术领域,一种半导体封装过程中保护焊点免受污染的方法,步骤依次包括涂覆焊料、贴片、将焊盘隔离、回流焊、取消焊盘隔离、打线。有益效果:本发明在回流焊工艺过程中,引入一道保护易受污染焊点的工序和保护装置,能够有效的解决焊点污染问题,且操作性强。能够提高良品率2%左右,同时消除了后期使用过程中脱焊现象等隐患。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-10

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L21/60 申请公布日:20160224 申请日:20151117

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/60 申请日:20151117

    实质审查的生效

  • 2016-02-24

    公开

    公开

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