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一种一步法合成Si/IIB-VIB族半导体纳米p-n结的方法

摘要

一种一步法合成Si/IIB-VIB族半导体纳米p-n结的方法,是在水平管式炉中进行化学气相沉积方法,在1000-1100℃蒸发IIB-VIB族材料,在保温过程中引入硅烷,或同时引入III族或V族气态掺杂元素,由于硅与IIB-VIB族材料互溶性小,其通常生长在IIB-VIB族纳米结构的表面,形成IIB-VIB(核)-Si(壳)结构。而掺杂元素的引入使得Si(壳)与IIB-VIB(核)具有互补的掺杂类型,构成高质量纳米p-n结,即可一步法实现Si/IIB-VIB纳米p-n结的生长。另一方面,由于Si作为外包裹材料的径向生长限制作用,内核IIB-VIB纳米线的直径可以限制在10纳米以内,所以这种方法也可作为生长具有量子效应的小尺寸IIB-VIB纳米结构的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN102176410A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 合肥工业大学;

    申请/专利号CN201110048502.8

  • 申请日2011-03-01

  • 分类号H01L21/04;C23C16/24;C23C16/30;C23C16/44;

  • 代理机构安徽省合肥新安专利代理有限责任公司;

  • 代理人吴启运

  • 地址 230009 安徽省合肥市屯溪路193号

  • 入库时间 2023-12-18 03:08:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-13

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/04 授权公告日:20130109 终止日期:20150301 申请日:20110301

    专利权的终止

  • 2013-01-09

    授权

    授权

  • 2011-11-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/04 申请日:20110301

    实质审查的生效

  • 2011-09-07

    公开

    公开

说明书

一、技术领域

本发明涉及一种制备Si/IIB-VIB族半导体纳米p-n结的方法,具体地说是一种一步法合成Si/IIB-VIB族半导体纳米p-n结的方法。

二、背景技术

纳米p-n结是纳米光电子器件重要的材料基础。IIB-VIB族准一维半导体,包括ZnO、ZnS、ZnSe、ZnTe和CdS纳米线/带等,具有高晶体质量、良好输运性质,以及高发光效率等优异性能,是新一代纳米光电子器件重要的材料基础。p-n结是最基本的器件结构之一,IIB-VIB族纳米结构在发光、光电探测、光伏器件等纳米电子、光电子领域的应用都离不开纳米p-n结的构建与应用。目前常用的制备纳米p-n结的方式包括两种:一种是通过多步交替生长n、p型部分得到,另一种方法是通过交叉排布n、p型纳米线实现。但普遍存在的问题是工艺复杂,重复性低,可控性差。

三、发明内容

本发明针对上述现有技术的不足之处,旨在提供一种一步法合成Si/IIB-VIB族半导体纳米异质结p-n结的方法。所要解决的技术问题是利用化学气相沉积法一步合成Si/IIB-VIB族半导体纳米p-n结。

本发明的理论基础是由于Si(硅)与IIB-VIB族材料在掺杂元素的选择方面正好互补,Si是IV族元素,其p-型掺杂元素是B(硼)、Al(铝)、Ga(镓)等III-族元素,n-型掺杂是P(磷)、As(砷)、Sb(锑)等V族元素,正好与IIB-VIB族材料形成互补(III族为n型掺杂,V族为p-型掺杂)。利用化学气相法,通过在生长IIB-VIB族纳米结构的同时引入Si源(如SiH4)和III族或V族掺杂元素,由于硅与IIB-VIB族材料互溶性小,其通常生长在IIB-VIB族纳米结构的表面,在合成IIB-VIB(核)-Si(壳)结构,完成对IIB-VIB(核)-Si(壳)的互补掺杂,即可一步法实现Si/IIB-VIB纳米p-n结的生长。该方法简单有效。

本发明的技术方法是在水平管式炉中进行气相化学沉积,包括混合、蒸发和冷却,首先将IIB-VIB族材料同III族掺杂元素或者IIB-VIB族材料同V族元素按1-50%的原子比研磨混合均匀后置于水平管式炉的中部,金膜厚度为1-100nm的蒸金硅片置于水平管式炉的后部,在压力400-1.6×104Pa、氩氢气流保护下于560-640℃以1-100SCCM流量引入硅烷气体,继续升温至1000-1100℃蒸发1.5-2.5小时,保温蒸发结束后用高纯氩气清洗管路,待炉体自然冷却至室温,可在硅基底上见到棕黄色绒状产物,即为一步法合成的IIB-VIB(核)-Si(壳)结构的Si/IIB-VIB族半导体纳米p-n结。

如果使用气态的掺杂元素如氮气、硼烷或磷烷等,则在引入硅烷气体的同时引入掺杂气源,掺杂气源用氢气稀释至体积百分浓度1-50%,流量1-100SCCM,继续升温至1000-1100℃蒸发1.5-2.5小时,硅烷和掺杂气体流量可控,掺杂浓度亦可控。

所述的IIB-VIB族材料选自CdS、CdSe、ZnSe、ZnS或ZnTe等。

所述的III族掺杂元素选自B、Al、In或Ga等,V族掺杂元素选自N、P、As或Sb等。

两种技术方案的操作步骤如下:

1、掺杂物为固态粉末的情况

a、将Ga或者Sb(纯度高于99.9%)粉末同IIB-VIB族半导体粉末(纯度高于99.9%),按照原子比为1-50%进行混合,放到玛瑙钵中进行充分研磨。

b、称量0.5-1g适量原料放入Al2O3小瓷舟(纯度高于99.9%)中,将小瓷舟放入水平管式炉中心位置。在载气下游距小瓷舟10-15cm处放置蒸金硅片。蒸金硅片上的金膜厚度约为1-100nm。

c、采用机械泵和分子泵将水平管式炉中的本底真空抽至10-3Pa,通入高纯氩氢气,保持炉内气压为400-1.6×104pa,氩氢气流量保持为100-200SCCM。

d、经过40分钟炉子程序控制升温至560-640℃,通入高纯硅烷,硅烷气流量保持在5-100SCCM,同时将氩氢气气流流量降低为100SCCM-150SCCM,气压保持不变在400-1.6×104pa。继续升温至1000-1100℃,保温2个小时。

e、保温结束后,用高纯氩气清洗管路,待炉体自然冷却至室温,可在硅基底上见到棕黄色绒状产物,即为一步法合成的Si/IIB-VIB族半导体纳米p-n结。

2、掺杂元素为气体的情况

a、称量0.5-1g IIB-VIB族半导体材料粉末(纯度高于99.9%)放入Al2O3小瓷舟(纯度高于99.9%)中,将小瓷舟放入水平管式炉中心位置。在载气下游距小瓷舟10-15cm处放置蒸金硅片。蒸金硅片上的金膜厚度约为1-100nm。

b、采用机械泵和分子泵将水平管式炉中的本底真空抽至10-3Pa,通入高纯氩氢气,保持炉内气压为400-1.6×104Pa,氩氢气流量保持为100-200SCCM。

c、经过40分钟炉子程序控制升温至560-640℃,通入纯度高于99.9%硅烷和硼烷(或磷烷、氮气),硅烷气流量保持在5-100SCCM,硼烷用氢气稀释,保证硼烷体积百分浓度在1-50%范围内,流量保持在5-100SCCM,气压保持不变在400-1.6×104Pa。继续升温30分钟至1000-1100℃,保温2个小时。

本发明有益效果体现在:

1、本发明采用一步生长实现Si/IIB-VIB族纳米p-n结的方法,工艺简单,适合大规模制备,很好地解决了上述IIB-VIB族纳米p-n结中存在的问题;

2、本发明中由于硅与IIB-VIB族材料互溶性小,其通常生长在IIB-VIB族纳米结构的表面,另外由于硅与IIB-VIB族材料晶格常数相近,较易形成外延IIB-VIB(核)-Si(壳)结构。而掺杂元素的引入使得Si(壳)与IIB-VIB(核)具有互补的掺杂类型,构成高质量纳米p-n结;

3、由于Si作为外包裹材料的径向生长限制作用,内核IIB-VIB纳米线的直径可以限制在10纳米以内,所以本发明方法也可作为生长具有量子效应的小尺寸IIB-VIB纳米结构的方法。

本产物特征为:通过控制硅烷的流量数值大小,即可调控核壳结构Si/IIB-VIB族异质结中的IIB-VIB族内核以及外围包裹的Si壳层厚度。如果硅烷的流量大于50SCCM,IIB-VIB族内核直径被限制小于20nm下,外围包裹的Si壳层厚度为20-50nm;如果硅烷的流量小于50SCCM,IIB-VIB族内核直径大于20nm,外围包裹的Si壳层厚度为10-20nm。引入III族元素IIB-VIB族内核载流子浓度可达到1019cm-3,外面包裹的Si壳层载流子浓度为1019cm-3,引入V族元素IIB-VIB族内核载流子浓度可达到1017cm-3,外面包裹的Si壳层载流子浓度为1019cm-3

为了检测Si/IIB-VIB族半导体纳米p-n结的材料结构和电学型能,分别采用透射电镜、X射线衍射对Si/IIB-VIB族半导体纳米p-n结的微结构进行了表征(见图1、图2),另外将Si/IIB-VIB族半导体纳米p-n结分散在氧化硅厚度为300纳米的重掺杂Si片上,利用光刻、刻蚀、电子束镀膜等手段,分别在IIB-VIB族内核和外层包裹Si壳层上制备电极,制备了基于Si/IIB-VIB族半导体纳米p-n结的纳米器件,测试Si/IIB-VIB族半导体纳米p-n结的电学性能(结果见图3)。

四、附图说明

图1为本发明制备所得Si/ZnSe纳米p-n结X射线衍射谱;

图2为Si/ZnSe纳米p-n结透射电镜照片,右下角插图为选区电子衍射。

图3a)为基于Si/ZnSe纳米p-n结制备的纳米器件扫描电镜照片,在ZnSe内核上和外面包裹的Si壳层上分别加上电极;b)基于纳米器件测试得到的Si/ZnSe纳米p-n结的电学曲线。

五、具体实施方式

实施例1:

1、将高纯Sb粉末(99.99%)同IIB-VIB族半导体ZnSe粉末(99.99%),按照原子比为8%进行混合,放到玛瑙钵中进行充分研磨。

2、称量0.5g混合好的ZnSe和Sb粉放入小瓷舟中,将小瓷舟放入水平管式炉中心位置。在载气下游距小瓷舟12cm处放置蒸金硅片。蒸金硅片上的金膜厚度约为10nm。

3、采用机械泵和分子泵将水平管式炉中的本底真空抽至10-3Pa,通入高纯氩氢气,保持炉内气压为1.6×104Pa,氩氢气流量保持为150SCCM。

4、经过40分钟炉子程序升温至580℃,通入高纯硅烷,将氩氢气气流流量降低为50SCCM,硅烷气流量保持在50SCCM,气压保持不变。温度继续升温30分钟至1049℃,保温2个小时。

5、保温结束,清洗管路,待炉体冷却至室温,可在硅基底上见到棕黄色绒状产物,即为一步法合成的Si/ZnSe族半导体纳米p-n结。

实施例2:

将高纯Ga粉末(99.99%)同IIB-VIB族半导体CdSe粉末(99.99%)按原子比6%于玛瑙钵研磨混合均匀,以后的操作同实施例1。得到Si/CdSe族半导体纳米p-n结。

实施例3:

1、称量1gIIB-VIB族半导体ZnSe粉末放入小瓷舟中,将小瓷舟放入水平管式炉中心位置。在载气下游距小瓷舟12cm处放置蒸金硅片。蒸金硅片上的金膜厚度约为10nm。

2、采用机械泵和分子泵将水平管式炉中的本底真空抽至10-3Pa,通入高纯氩氢气,保持炉内气压为6×103Pa,氩氢气流量保持为150SCCM。

3、经40分钟炉子程序升温至600℃,通入高纯硅烷和磷烷(氢气稀释至10%),硅烷气流流量保持在50SCCM,磷烷气流流量为50SCCM。气压保持不变。30分钟后温度继续升高至1040℃,保温2个小时。

4、保温结束,清洗管路,待炉体冷却至室温,可在硅基底上见到棕黄色绒状产物,即为一步法合成的Si/ZnSe族半导体纳米p-n结。

实施例4:

以硼烷(氢气稀释至10%)替代实施例3中的磷烷,其他操作同实施例3。

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