首页> 中国专利> 基于标准CMOS工艺的多层浮栅全固态pH值传感器

基于标准CMOS工艺的多层浮栅全固态pH值传感器

摘要

一种基于标准CMOS工艺的多层浮栅全固态pH值传感器,包括场效应管漏区和场效应管源区构成的PMOS场效应管,所述PMOS场效应管与氧化层连接,所述氧化层上覆盖多层悬浮栅极结构,所述多层悬浮栅极结构自上而上依次包括连接层、金属1层、通孔层和金属2层,所述多层悬浮栅极结构上覆盖二氧化硅和氮化硅复合的氢离子敏感层。本发明提供一种实现与标准CMOS工艺兼容、便于集成化的基于标准CMOS工艺的多层浮栅全固态pH值传感器。

著录项

  • 公开/公告号CN102175740A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江工业大学;

    申请/专利号CN201110003064.3

  • 发明设计人 施朝霞;曹全君;彭银生;常丽萍;

    申请日2011-01-07

  • 分类号G01N27/414;

  • 代理机构杭州天正专利事务所有限公司;

  • 代理人王兵

  • 地址 310014 浙江省杭州市下城区朝晖六区

  • 入库时间 2023-12-18 03:08:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-09-11

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N27/414 申请公布日:20110907 申请日:20110107

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2011-11-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/414 申请日:20110107

    实质审查的生效

  • 2011-09-07

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号