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利用晶片结合和电化学蚀刻停止的小型表压传感器

摘要

本发明涉及一种表压传感器装置及其制作方法。对约束晶片进行部分蚀刻以设置膜片尺寸,然后结合到一上部晶片。上部晶片的厚度可以是期望的膜片厚度,或者在结合后减薄为期望厚度。上部晶片和约束晶片的结合使得能够进行电化学蚀刻停止。这允许通过约束晶片的背侧来蚀刻介质通道,并且当蚀刻到达膜片时产生电信号。该工艺防止膜片过蚀刻。与通过从背侧蚀刻设置膜片尺寸的情况下的管芯相比,本发明允许管芯的尺寸更小。

著录项

  • 公开/公告号CN101743637A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-06-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 霍尼韦尔国际公司;

    申请/专利号CN200880023226.6

  • 申请日2008-07-02

  • 分类号H01L29/84;G01L9/06;G01L9/08;H01L29/78;

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人李娜

  • 地址 美国新泽西州

  • 入库时间 2023-12-18 00:27:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-07

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L29/84 申请公布日:20100616 申请日:20080702

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2010-09-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/84 申请日:20080702

    实质审查的生效

  • 2010-06-16

    公开

    公开

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